and HeとHeとの衝突における0°電子のバイナリーピークP.Hvelplund*; 俵 博之*; 小牧 研一郎*; 山崎 泰規*; 黒木 健郎*; 渡辺 比呂志*; 川面 澄*; 左高 正雄; 今井 誠; 金井 保之*; 神原 正*; 粟屋 容子*
P.Hvelplund*; not registered; Komaki, Kenichiro*; not registered; not registered; not registered; Kawatsura, Kiyoshi*; Sataka, Masao; Imai, Makoto; Kanai, Yasuyuki*; Kambara, Tadashi*; not registered
タンデム加速器から得られた56MeVのSiイオンとヘリウム原子の衝突で放出されたバイナリー電子をイオンビームに対し0度の方向で測定し、その強度の入射イオン電荷(6+~14+)に対する依存性を調べた。その結果はフッ素イオンを用いて研究したRichardらの結果と定性的に一致し、入射イオン電荷が小さくなるとバイナリー強度が大きくなった。またイオンの外側のスクリーニングを考慮したTaulbiergの理論値と本測定値とは良い一致を見た。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 60 |
号 |
: | 11 |
ページ数 |
: | p.3675 - 3678 |
発行年月 |
: | 1991/11 |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：62.5 分野：Physics, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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