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Light and heavy element profiling using heavy ion beams

重イオンビームを利用した軽及び重元素の深さ分布決定

Goppelt-Langer, P.*; 山本 春也; 青木 康; 竹下 英文; 楢本 洋

Goppelt-Langer, P.*; Yamamoto, Shunya; Aoki, Yasushi; Takeshita, Hidefumi; Naramoto, Hiroshi

タンデム加速器からの重イオン、典型的には16MeV $$^{16}$$O$$^{5+}$$イオンをラザフォード後方散乱分光及び弾性反跳粒子分光に利用して、それぞれ重元素の測定を行った研究の報告である。特に弾性反跳粒子分光に関しては、入射粒子の阻止能、ストラグリング及び各種反跳軽粒子の阻止能、ストラグリングの評価を実験及び計算の結果を対比した。その結果、検出感度は、重イオン利用により約1桁向上した。深さ分解能としては、重元素マトリックス中で100$AA$、軽元素マトリックス中では250$AA$を得た。

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