の価数転移に対する軟X線高分解能光電子分光による研究佐藤 仁*; 吉河 訓太*; 平岡 耕一*; 有田 将司*; 藤本 浩二*; 小島 健一*; 室 隆桂之*; 斎藤 祐児 
; 関山 明*; 菅 滋正*; 谷口 雅樹*
Sato, Hitoshi*; Yoshikawa, Kunta*; Hiraoka, Koichi*; Arita, Masashi*; Fujimoto, Koji*; Kojima, Kenichi*; Muro, Takayuki*; Saito, Yuji; Sekiyama, Akira*; Suga, Shigemasa*; Taniguchi, Masaki*
YbInCuの価電子帯の電子状態を励起エネルギー800eVを用いた高分解能光電子分光によって調べた。測定温度を50Kから40Kに下げると、42Kの価数転移に伴い、Yb
成分は著しく強度が増加し、一方Yb
成分の強度は減少した。Ybイオンの価数はこの光電子スペクトルから直接導出され、100Kにおいて約2.81であり、50Kまで徐々に減少し、40Kにおいて約2.68へ急激に変化した。これらの値は、これまでに報告されている検出深さの短い実験と比べて大きく、YbInCuの準表面状態の存在を示唆する。また、測定温度を50Kから40Kに下げると、Yb成分の多重項構造が50meV程度高結合エネルギーに移動することが観測された。これは、Ybの4f準位に電子を加えるためのエネルギーの増加を反映していると考えられ、価数転移現象とよく対応する。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
: | 69 |
号 |
: | 16 |
ページ数 |
: | p.165101_1 - 165101_6 |
発行年月 |
: | 2004/04 |
キーワード |
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論文URL |
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使用施設 |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：77.9 分野：Materials Science, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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