共鳴非弾性X線散乱を用いた高圧下での電子状態の観測

Observation of electronic structure under high pressure by resonant inelastic X-ray scattering

吉田 雅洋; 石井 賢司; Jarrige, I.; 水木 純一郎; 村上 洋一*; 工藤 一貴*; 小池 洋二*

Yoshida, Masahiro; Ishii, Kenji; Jarrige, I.; Mizuki, Junichiro; Murakami, Yoichi*; Kudo, Kazutaka*; Koike, Yoji*

高輝度放射光の利用とともに発展してきた共鳴非弾性X線散乱(Resonant Inelastic X-ray Scattering: RIXS)は、運動量分解した電子状態を観測できる実験手法である。特に、3d遷移金属のK-edge RIXSは透過性の高い硬X線を利用するため、極限環境下での測定が可能である。この利点に注目し、われわれは高圧下における電子状態の測定を目指して、ダイアモンドアンビルセル(Diamond Anvil Cell: DAC)を用いたRIXS実験の開発を行った。最初の測定物質として、二本足梯子格子系銅酸化物SrCaCuOを選んだ。この物質系は、常圧下では電荷秩序()が、圧力下では、金属絶縁体転移()や超伝導転移()が起こることが知られている。したがって、加圧によって、電子状態が大きく変化し、それを反映して電荷励起スペクトルの顕著な変化が期待できる。本講演では、母物質()での、圧力下RIXS実験に関して報告を行う。

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