高圧XAFS

High pressure XAFS

本解説では、高圧下でのXAFSについての一般的な情報を、放射光関係者に対して簡潔に紹介する。始めに、圧力を加えることによって物質の構造や性質がどのように変化するかということに簡単に触れた後、高圧XAFSのメリットやデメリットを高圧X線回折実験と比較して述べ特に単結晶X線回折実験が難しい高圧では、XAFSが粉末X線回折実験と相補的な手段であることを示す。次に、これまで高圧下でのXAFSに用いられてきたいくつかの高圧発生装置やXAFS実験方法について、それぞれ発生できる温度圧力範囲や特色などについてまとめる。それと同時に代表的な研究例を挙げる。最後にわれわれが最近SPring-8の放射光を用いて行った、高圧下での結晶及び液体セレンのXAFS測定データを紹介する。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	放射光
巻	:	13
号	:	5
ページ数	:	p.385 - 387
発行年月	:	2000/11
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	XAFS; 高圧; 高温; 構造; 放射光; X線回折; 実験技術; セレン; 結晶; 液体

特許データ	:
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論文URL	:	http://ci.nii.ac.jp/naid/10005304553
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広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : A20000281
抄録集掲載番号 : 290240
論文投稿番号 : 17928

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