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山中 三四郎*; 福田 正*; 沢 五郎*; 家田 正之*; 伊藤 政幸; 瀬口 忠男
IEEE Trans. Dielect. Elect. Insul., 2(1), p.54 - 61, 1995/02
被引用回数：12 パーセンタイル：67.69(Engineering, Electrical & Electronic)電線絶縁材料としてのエチレンプロピレンゴム(EPR)の照射劣化について、EPRに添加する充填材の濃度の影響を電気伝導度と超低周波分極の測定から解析した。これらの特性はEPRと充填材の界面に捕捉される電荷の挙動に依存するというモデルで解析できた。
山中 三四郎*; 壁谷 孝志*; 福田 正*; 沢 五郎*; 家田 正之*; 伊藤 政幸; 川上 和市郎
電気学会論文誌,A, 110(11), p.781 - 788, 1990/11
原子炉用電線の絶縁劣化診断法研究の一環として、照射線量と残留電圧、漏れ電流及び放電電流との関係を調べ、残留電圧測定法の絶縁劣化診断への応用の可能性を検討した。その結果、
線照射量と残留電圧、漏れ電流及び放電電流との間に相関関係があること、また、残留電圧と漏れ電流及び放電電流との等価性、すなわち、残留電圧の解析結果から漏れ電流及び放電電流を評価できることを明らかにした。これらのことから、残留電圧の放射線劣化診断への適用の可能性が示唆される。
線照射EPRの電気的特性に及ぼす充填剤の影響鬼頭 嚇巳*; 山中 三四郎*; 福田 正*; 沢 五郎*; 家田 正之*; 伊藤 政幸; 川上 和市郎
EIM-90-117, 10 Pages, 1990/00
放射線によるEPRの絶縁劣化機構を充填剤が存在する系について解明するために、ハードクレイを配合した系について検討した。配合剤の量を0から40部の範囲で変えた試料にCo-60線室温の酸化環境下で照射した。照射は0から0.8MGyの範囲内で線量を変えて行なった。各試料について充電電流と放電電流を測定し、Cole-Coleの式を用いて解析し、次の結果を得た。1)未照射試料の導電率はゴムと充填剤の界面に依存するキャリアトラップと充填剤による導電路を仮定することにより説明できる。2)放射線による分散強度の変化は充填剤を4部から20部配合した試料では低線量で急増し、その後飽和する傾向を示すのに対して40部配合した試料では照射による変化が少ない。
