Cf及びAm-Be中性子源を用いた速中性子校正場の散乱線評価

J.R.Dumais*; 吉澤 道夫; 山口 恭弘

JAERI-Tech 98-005, 65 Pages, 1998/03

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原研・放射線標準施設棟には、中性子線量測定用の個人線量計やサーベイメータを校正するためのRI中性子源を用いた速中性子校正場が整備されている。この速中性子校正場には、線源カプセル、スタンド、空気及び壁等からの散乱線が含まれており、線量計の校正に影響を及ぼす可能性がある。そこで、MCNP-A4モンテカルロコードを用いた計算により、各散乱成分の割合及び中性子エネルギースペクトルの評価を行った。さらに、ボナー球検出器を用いた実験により中性子エネルギースペクトルを求め、これに基づき計算結果の補正を行った。その結果、線源から100cmにおける散乱線の混入割合は、中性子フルエンスについてCfで23%、Am-Beで19%であった。これらを線量当量に換算すると、Cfで13~14%、Am-Beで8~10%であることが明らかになった。