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松田 康弘*; Her, J.-L.*; 道村 真司*; 稲見 俊哉; 海老原 孝雄*; 網塚 浩*
JPS Conference Proceedings (Internet), 3, p.011044_1 - 011044_6, 2014/06
CeRhSiの放射光X線吸収実験を32Tまでのパルス強磁場下で行った。Ceの価数は5Kで3+よりわずかに大きく、20T以上の磁場印加に伴い減少する。磁場誘起の価数変化は磁化過程のメタ磁性転移に対応している。この現象は我々の以前に行ったCeRuSiの結果に似ており、Ce系重い電子系化合物に共通の現象と思われる。
松田 康弘*; 中村 俊幸*; 久我 健太郎*; 中辻 知*; 道村 真司*; 稲見 俊哉; 河村 直己*; 水牧 仁一朗*
Journal of the Korean Physical Society, 62(12), p.1778 - 1781, 2013/06
被引用回数:10 パーセンタイル:55.85(Physics, Multidisciplinary)-および-YbAlB中のYbイオンの価数をX線吸収および発光分光で2Kから280Kの温度範囲で測定した。価数は温度とともに3価に向かってゆっくり増加し、価数揺動の特性温度は約290Kと分かった。40Kで32Tまでの磁場を印可しYbの価数のわずかな増加(0.002)も観測した。