2000年度

溶融塩および高温化学

290121
高エネルギーX線回折と逆モンテカルロ法によるランダム系物質の構造解析
小原真司* ; 鈴谷賢太郎 ; 大野英雄
溶融塩および高温化学 43(2), p.41-52(2000) ; (JAERI-J 17841)

　高エネルギーX線回折(40〜300keV)がSPring-8などの第3世代放射光で行うことが可能になってきている．高エネルギーX線を用いることにより，ガラスや封入された液体を透過法で測定できるほか，吸収補正が小さく，また高い波数ベクトルQまで測定できるので，高い実空間分解能を得ることができる．したがって，ガラスや液体の構造を正確に調べるには，これまで行われてきた中性子回折やX線異常散乱に加えて，この高エネルギーX線回折を併用するのが効果的である．逆モンテカルロ法(RMC)は，このような複数の実験データを説明する構造モデルを構築する方法であり，正確な実験データに適用するほど，信頼性の高いモデルが得られる．われわれは，SPring-8において高エネルギーX線回折実験を進めており，パルス中性子回折の結果と併せてRMCによって，数々の液体やガラスの構造を明らかにしてきており，その結果をレビューする．