2002年度

日本材料学会第38回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集

301186
中性子回折法による試料端部の測定
皆川宣明 ; 盛合敦 ; 森井幸生
日本材料学会第38回X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集, p.202-205(2002) ; (JAERI-J 19610)

　中性子回折法による内部残留応力測定による表面近傍（試料端部）では，測定結果が極端な延び応力又は縮み応力となる．この原因を解明するための測定を行い，測定方法により散乱角の変化があることがわかった．すなわち，反射法による測定，透過法による測定，スリット寸法，試料走査方向により変化する．これらの条件を基に原因解明を行った結果，入射ビーム広がり角に依存することがわかった．ショットピーニングによる数十マイクロメータから百マイクロメータ深さの応力分布測定に中性子回折法を有効的に利用するためこの解明は大いに役立つことを紹介している．