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The Development of a new data collection system and chamber for transient ion beam and laser beam induced current measurements as a function of temperature

イオン及びレーザビームにより発生する過渡電流を温度の関数として計測する新たなデータ収集システム及び照射試験装置の開発

Laird, J. S.; 平尾 敏雄; 森 英喜*; 小野田 忍*; 伊藤 久義

Laird, J. S.; Hirao, Toshio; Mori, H.*; Onoda, Shinobu*; Ito, Hisayoshi

入射粒子1個により発生するシングルイベント過渡電流波形とIBICの測定を同時に行える新たな測定システム(TIBIC)とレーザを用いたLIBICを開発した。このシステムを使用することによって、放射線損傷の影響が少なく、イオンの入射位置での影響も同時に測定できるなど、より詳細なシングルイベント発生機構の解明に必要な情報の取得が可能となった。本会議では、TIBICシステムを用いて取得した15MeV炭素及び酸素イオン照射時のガリウム砒素ダイオード及びMOSFETにおけるシングルイベント過渡電流波形と電荷収集マッピングデータ、レーザを用いて得られたシリコンダイオードの接合部マッピング、さらにシリコンダイオードでのシングルイベント過渡電流波形の照射中の温度との関係等を述べるとともに、今後の研究内容についての紹介を行う。

no abstracts in English

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