Yokoya, Ritsuko; Saito, Kimiaki
放射線によって生じるDNA損傷の特徴は、放射線のエネルギー付与とDNAの空間構造を反映していると考えられる。深刻な生物影響をもたらすと考えられるDNA損傷の多くは、飛程末端の低エネルギー電子により生成することが先行研究によって指摘されているが、飛程末端におけるナノメートルオーダーの微小領域のエネルギー分布やDNA損傷分布を実験的に観測するのは困難である。モンテカルロ法によるシミュレーションは、確率事象である放射線エネルギー付与と生体分子との相互作用を知るための有効な手段である。われわれは、放射線によるDNA損傷の特徴とメカニズムを、実験と直接比較が可能なDNA水溶液系における間接作用をモデル化し、シミュレートすることによって調べている。結果として、水溶液中でのDNA鎖切断の主原因であるOHラジカルの収率は飛跡末端付近で減少し一本鎖切断もこれを反映するが、より複雑な損傷である二本鎖切断は飛跡末端ほど効率よく生成すること、これらの収率には数10nmの範囲でのエネルギー付与の空間密度が重要であることがわかった。
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使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.48 - 55 |
発行年月 |
: | 2001/00 |
発表会議名 |
: | EPA/JAERI Workshop on Radiation Risk Assessment in the 21st Century |
開催年月 |
: | 2001/11 |
開催都市 |
: | Las Vegas |
開催国 |
: | U. S. A. |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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Altmetrics |
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