TEM analyses of surface ridge network in an ion-irradiated graphite thin film

イオン照射されたグラファイト薄膜の表面隆起網の電顕による解析

武藤 俊介*; 田辺 哲朗*; 竹内 稔*; 小林 由美子*; 古野 茂実*; 北條 喜一

Muto, Shunsuke*; Tanabe, Tetsuo*; not registered; not registered; Furuno, Shigemi*; Hojo, Kiichi

ヘリウムイオンを照射したグラファイトの構造変化を透過型電子顕微鏡を用いて、その場観察等を行った。その結果、照射の初期(数秒後)にridge networkが出現することを見いだした。また、0.01dpa以下のイオン照射量でnetwork構造が完成することを発見した。そして、この構造変化がはじき出し損傷や注入ガスによる膨張によるよりは表面近くに注入された高密度なエネルギーによる集団的な電子励起に影響されたものであることがわかった。

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