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Photoemission spectroscopic study on influence of O$$_{2}$$ translational kinetic energy for Si(001) initial oxidation

Si(001)初期酸化に対するO$$_{2}$$並進運動エネルギーの影響を関する光電子分光研究

寺岡 有殿; 吉越 章隆 

Teraoka, Yuden; Yoshigoe, Akitaka

O$$_{2}$$超音速分子線を用いてSi(001)表面り初期酸化に対するO$$_{2}$$分子の並進運動エネルギーの影響を実験的に研究している。これまでに残留H$$_{2}$$O分子の再吸着で形成された部分酸化Si(001)表面の酸化で1.0eVと2.6eVに並進運動エネルギーしきい値が見いだされ、Si-2p,O-1s光電子スペクトルにもそれに対応した変化が見いだされていた。今回は清浄Si(001)面での同様の実験結果を報告する。この場合、しきい値は観測されない。Si-2p光電子スペクトルでは1eV以下であってもSi$$^{4+}$$まで酸化が進行することがわかった。つまり清浄Si(001)面では1eV以下でもダイマーのバックボンドまでO原子が拡散するため、そこでの直接的な解離吸着が抑制されると思われる。

no abstracts in English

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