Neudatchin, S. V.; 滝塚 知典; 白井 浩; 藤田 隆明; 諫山 明彦; 鎌田 裕; 小出 芳彦; Dnestrovskij, Y. N.*
Neudatchin, S. V.; Takizuka, Tomonori; Shirai, Hiroshi; Fujita, Takaaki; Isayama, Akihiko; Kamada, Yutaka; Koide, Yoshihiko; Dnestrovskij, Y. N.*
JT-60U中の内部輸送障壁(ITB)を持つ正及び負磁気シアプラズマ中の速い時間スケールとゆっくりした時間スケールの時間発展を調べた。弱いITBにおいて時間的に急激で空間的に広がりのある変動が、電子とイオンの熱拡散係数
に生じる。強いITBを持つ負磁気シア(RS)プラズマ中では、の変動はITBの足部近傍に局在化する。さまざまなRSプラズマにおいて、安全係数がほぼ最小になるところで熱流束の変動が最大となる。の急変及び鋸歯的崩壊によって誘起される熱パルス伝搬を解析し、強いITB領域内ではの値は小さく熱ピンチはないことを確かめた。また、ELMで引き起こされるH-L遷移時とその回後のL-H遷移時のの急激変動は、RSプラズマの弱いITB領域より内側の負シア領域にわたって非局在的に起きる。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-Research 2001-056 |
ページ数 |
: | 32 Pages |
発行年月 |
: | 2001/12 |
| : | ||
論文URL |
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キーワード |
: | JT-60U; 正磁気シア; 負磁気シア; 内部輸送障壁; 過渡輸送解析; 熱拡散係数; ITB事象; 熱パルス伝搬; 非局在的遷移; L-H-L遷移 |
Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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Altmetrics |
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