照射誘起析出と自由拡散欠陥; 二重イオンビーム照射実験の結果を中心として

Radiation induced segregation and freely migrating defects

合金を高エネルギー粒子照射したときに生ずる溶質原子の析出(照射誘起析出)を支配する自由拡散欠陥(FMD)の生成効率を、Heイオン・重イオン2重ビーム照射下において評価した。その結果、重イオンを同時照射したときのFMD生成効率は、Heイオン単独照射時に比べ、大きく減少した。これは、重イオン照射によって生成されたカスケード損傷が、FMDに対して有効な再結合サイトとして作用したことを意味する。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	まてりあ
巻	:	41
号	:	1
ページ数	:	p.20 - 27
発行年月	:	2002/01
発表会議名	:
開催年月	:
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開催国	:
キーワード	:	Dual-beam Irradiation; Freely Migrating Defects; Inter-cascade Interaction

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論文URL	:	http://ci.nii.ac.jp/naid/10008836402
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登録番号 : A20010532
抄録集掲載番号 : 300575
論文投稿番号 : 19106

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