Determination of the phase boundary between ilmenite and perovskite in MgSiO $_{3}$ by in situ X-ray diffraction and quench experiments

その場X線回折ならびに急冷法によるMgSiO $_{3}$ のイルメナイト-ペロフスカイト相転移境界の決定

黒田幸治*; 入舩徹男*; 井上徹*; 西山宣正*; 宮下穣*; 舟越賢一*; 内海渉

Kuroda, Koji*; Irifune, Tetsuo*; Inoue, Toru*; Nishiyama, Norimasa*; Miyashita, Minoru*; Funakoshi, Kenichi*; Utsumi, Wataru

放射光によるその場X線回折と急冷回収法の両者を用いて、MgSiO $_{3}$ のイルメナイト-ペロフスカイト相転移境界を決定した。境界は、1200 $^{circ}C$ から1800 $^{circ}C$ のあいだで、P(GPa)=25.0-0.003T(C)と求まった。これは、Mg $_{2}$ SiO $_{4}$ におけるポストスピネル境界にくらべて、0.5GPa程度低圧側にある。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Physics and Chemistry of Minerals
巻	:	27
号	:	8
ページ数	:	p.523 - 532
発行年月	:	2000/09
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	高温; 高圧; 放射光; X線回折; MgSiO $_{3}$

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1007/s002690000096
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:	SPring-8(大型放射光施設)
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登録番号 : A20020251
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Determination of the phase boundary between ilmenite and perovskite in MgSiO by in situ X-ray diffraction and quench experiments

その場X線回折ならびに急冷法によるMgSiOのイルメナイト-ペロフスカイト相転移境界の決定

Determination of the phase boundary between ilmenite and perovskite in MgSiO $_{3}$ by in situ X-ray diffraction and quench experiments

その場X線回折ならびに急冷法によるMgSiO $_{3}$ のイルメナイト-ペロフスカイト相転移境界の決定