上原 和也; 津島 晴*; 雨宮 宏*; JFT-2Mグループ
Uehara, Kazuya; Tsushima, Akira*; not registered; JFT-2M Group
JFT-2Mトカマクにおける周辺プラズマで、改造型イオンセンシティブプローブを用いて、イオン温度と電子温度及びH
線の同時測定が成功裏に行われた。JFT-2Mの改造型イオンセンシティブプローブは、真空を破ることなく、電子の影響が制御できる障壁の高さを変えることができる。電子温度はイオンセンシティブプローブの電子障壁をラングミュアープローブとして用いることで測定され、イオン温度はイオンセンシティブプローブのイオン電極を用いて測定した。トカマクの周辺では、イオン温度は電子温度より高いという結果が得られ、ダイバータバイアスが印加されている時プラズマの閉じ込めが改善されている時は、イオン電流の減少がH線の減少と呼応しているという結果が得られた。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 66 |
号 |
: | 4 |
ページ数 |
: | p.921 - 924 |
発行年月 |
: | 1997/04 |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：76.5 分野：Physics, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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