田中 淳; 鹿園 直哉; 横田 幸彦*; 渡辺 宏; 田野 茂光*
not registered; Shikazono, Naoya; Yokota, Yukihiko*; Watanabe, Hiroshi; Tano, Shigemitsu*
重イオンビームの植物に対する影響をシロイヌナズナの発芽率、生存率を指標として調べた。重イオンとして、17~549keV/
mのLETを有するHe,C,Ne,Arを用いた。生存率では、用いた2系統でともにLET252keV/m付近で電子線照射に対してのRBF(生物効果比)が11~12と最大になり、重イオンのDNA損傷に対する効果が大きく、またイオンのLETによってその効果が異なることを明らかにした。一方、発芽率では用いた2系統で重イオンに対する感受性が異なり、DNAの損傷以外の要因が発芽に大きな影響を及ぼすことを示唆できた。さらに生存曲線で観察される生存率低下のしきい値(生存曲線の肩)に対する重イオンの効果の解析から、生存曲線の傾きと同様に、生存曲線の肩もDNAの回復能力に依存することを示唆した。
no abstracts in English
発表言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 72 |
号 |
: | 1 |
ページ数 |
: | p.121 - 127 |
発行年月 |
: | 1997/00 |
キーワード |
: | Heavy Ions; Arabidopsis Thaliana; RBE; Biological Effect; LET |
論文URL |
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論文解説 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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