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X線回折による表面構造解析

Surface structure studies by X-ray diffraction

水木 純一郎

Mizuki, Junichiro

放射線X線の高強度、Wide Energy Band性を利用して物質の表面及び界面構造研究例を紹介する。表面構造研究方法としては、微小角入射X線回折法、CTR法を説明し、それぞれの特長を述べる。また、異常分散効果を利用した新しい構造解析法「CMAD」,「DAFS」を説明し、それらを界面構造研究に応用した例を紹介して、放射光X線の威力を示す。

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