Density fluctuations in the JFT-2M H-mode plasma measured by using a new analysis method of microwave reflectometry

マイクロ波反射計の新しい解析法を用いて測定したJFT-2MのHモードプラズマ中での密度揺動

篠原 孝司; 三浦 幸俊; 星野 克道

Shinohara, Koji; Miura, Yukitoshi; Hoshino, Katsumichi

篠原他、Jpn.J.Appl.Phys.,36.7367,(1997)に掲載されたマイクロ波反射計の新しい解析法を用いてJFT-2MのHモードプラズマ中での密度揺動を測定した。JFT-2MのHモード放電では、しばしば、LH遷移後約10msにDの信号強度がLモードレベルまで増える現象が観測される。このとき、閉じ込めはHモード時より劣化するもののLモード時よりHモード時に近いことから、この現象をH'モードと呼んでいる。反射計で密度揺動を測定するとH'モード時、80-160kHz程度にコヒーレントな揺動が観測された。しかし、NB入射の方向をかえた実験からこのコヒーレントな揺動は閉じ込めを決めるものではないと推測される。また、500kHz以上の高周波の密度揺動がH,H'モード時にLモード時にくらべ、増加していることもわかった。これは反射計が高時間分解能の測定器であるが故に得られた結果である。

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