Electron temperature, density and pressure gradients at the edge on H-mode JFT-2M plasma

JFT-2M Hモードプラズマの周辺における電子温度、密度及び圧力勾配

Yamauchi, Toshihiko; not registered; not registered; not registered

JFT-2M Hモードプラズマにおける電子温度・密度分布をTVTSを使って精度の高い分布を得た。その分布を使って以下の物理が明らかとなった。まず、Hモードにおける周辺の温度勾配はLモードより5~6倍大きい。次に電子温度のスケール長はHモードの初めに密度のスケール長と等しいことが判った。また、Hモードにおける温度のスケール長の逆数(減衰率)はオーミック加熱と対照的に密度の減衰率より大きい。次に、ELMyHモードにおいて、周辺の密度分布はセパラトリックスの外側にはみ出た広い分布となり、温度及び密度のスケール長はELMyのないHモードのものより長い。

no abstracts in English

使用言語	:	English
掲載資料名	:	Physics Letters A
巻	:	247
号	:	4-5
ページ数	:	p.330 - 338
発行年月	:	1998/00
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	TVTS; ne分布; Te分布; Hモード; JFT-2M; ELMy; スケール長; NBI; ペディスタル; 電界

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1016/S0375-9601(98)00635-5
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:	パーセンタイル：38.85 分野：Physics, Multidisciplinary
Altmetrics	:

登録番号 : A19980342
抄録集掲載番号 : 270151
論文投稿番号 : 16120

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.