Study of intensity ratios of He I lines (668nm, 706nm and 728nm) for measurement of electron temperature and density in the JT-60U divertor plasma

JT-60Uダイバータプラズマにおける電子温度密度計測のためのHe Iスペクトル線(668nm,706nm,728nm)強度比に関する研究

久保 博孝; 後藤 基志*; 竹永 秀信; 熊谷 晃*; 杉江 達夫; 櫻井 真治; 朝倉 伸幸; 東島 智; 逆井 章

Kubo, Hirotaka; not registered; Takenaga, Hidenobu; Kumagai, Akira*; Sugie, Tatsuo; Sakurai, Shinji; Asakura, Nobuyuki; Higashijima, Satoru; Sakasai, Akira

ダイバータプラズマの電子温度密度の測定は、ダイバータプラズマの理解に欠かすことはできない。この測定には、通常静電プローブが用いられているが、それは熱流束による損傷を免れ得ない。熱流束の影響を受けない方法として、He Iスペクトル線(668nm,706nm,728nm)の放射強度比を用いた測定が考えられた。JT-60Uダイバータプラズマでは、この3つのスペクトル線の放射強度を同時に測定した。この強度比を用いた温度密度測定の可能性を評価するために、測定した強度比を静電プローブで測定した温度密度に基づいて計算した強度比と比較した。その結果、測定結果は計算結果と誤差約12%で一致した。したがって、これらスペクトル線に対する放射係数は、温度密度測定に十分適用できる精度を有することがわかった。

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