Destabilization of ellipticity-induced Alfven eigenmodes during ICRF heating and stabilization by negative-ion-based neutral beam injection in JT-60U

JT-60UのICRF加熱における楕円度励起アルヴェン固有モードの不安定化と負イオン源中性粒子ビーム入射による安定化

草間 義紀; Fu, G. Y.*; Kramer, G. J.*; 三枝 幹雄*; 及川 聡洋; 小関 隆久; 森山 伸一; Tchernychev, F. V.*; 根本 正博; 近藤 貴; 波多江 仰紀; 飛田 健次; 栗山 正明; C.Z.Cheng*; 木村 晴行

Kusama, Yoshinori; Fu, G. Y.*; Kramer, G. J.*; Saigusa, Mikio*; Oikawa, Toshihiro; Ozeki, Takahisa; Moriyama, Shinichi; Tchernychev, F. V.*; Nemoto, Masahiro; Kondoh, Takashi; Hatae, Takaki; Tobita, Kenji; Kuriyama, Masaaki; C.Z.Cheng*; Kimura, Haruyuki

JT-60Uプラズマのイオンサイクロトロン周波数帯(ICRF)加熱時に、周波数が525~550KHzでトロイダルモード数が3-7の磁場揺動(モード)を観測した。このモードの発生に伴い、高エネルギーイオンの異常輸送を示す中性子発生率の低下が起こる。NOVA-Kコードを用いて解析した結果、このモードは安全係数が1の面で起こるアルヴェン固有モードの一種の楕円度励起アルヴェン固有モード(EAE)であることが明らかになった。ICRF加熱と同時に負イオン源中性粒子ビーム(N-NB)を入射するとEAEは安定化され、中性子発生率も低下しない。NOVA-Kコードを用いてEAEの安定性解析を行ったところ、N-NB入射イオンビームによるランダウ減衰でEAEが安定化できることが新たに明らかになった。

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