検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

Alfven eigenmode and energetic particle research in JT-60U

JT-60Uにおけるアルヴェン固有モードと高エネルギー粒子研究

木村 晴行; 草間 義紀; 三枝 幹雄*; Kramer, G. J.*; 飛田 健次; 根本 正博; 近藤 貴; 西谷 健夫; O.DaCosta*; 小関 隆久; 及川 聡洋; 森山 伸一; 森岡 篤彦; Fu, G. Y.*; C.Z.Cheng*; V.I.Afanas'ev*

Kimura, Haruyuki; Kusama, Yoshinori; Saigusa, Mikio*; Kramer, G. J.*; Tobita, Kenji; Nemoto, Masahiro; Kondoh, Takashi; Nishitani, Takeo; O.DaCosta*; Ozeki, Takahisa; Oikawa, Toshihiro; Moriyama, Shinichi; Morioka, Atsuhiko; Fu, G. Y.*; C.Z.Cheng*; V.I.Afanas'ev*

JT-60Uにおけるアルヴェン固有モード、高速イオンの閉じ込め、高速イオンの計測に関する最近の研究成果を発表する。負磁気シア放電では、輸送障壁に強い密度勾配が伴う場合はTAEモードは安定である。密度勾配がゆるいと、多数のTAEモードが安全係数のピッチ極小点付近に現れ、かつ大きな周波数変化($$Delta$$f~90kHz)が見られる。低q正磁気シア放電ではTAEモードの位置が電流分布の時間発展に伴い、q=1面の外側から内側へと変化する。q=1面の内側に多数の高nモードが存在するときのみMeVイオンの個数が顕著に減少する。負磁気シア放電では、トリトンの燃焼率がかなり劣化する。軌道追跡モンテカルロ計算によれば、トリトンの損失増大の原因はリップル損失である。負磁気シア放電のICRF加熱時の高速イオンの蓄積エネルギーは正磁気シア放電に匹敵する。その他、MeV中性子分析器、$$gamma$$線計測等の開発成果を述べる。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

パーセンタイル:95.17

分野:Physics, Fluids & Plasmas

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.