X線表面構造解析

Surface study by X-ray diffraction

X線回折による表面構造解析法について、基礎から応用まで説明する。特に第3世代の放射光源を意識した研究例を紹介し、今後の表面構造研究の方向性を議論する。その中で、表面磁性研究、X線のコヒーレント性を利用した表面構造研究について述べる。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	高輝度放射光がめざす戦略的応用研究
巻	:
号	:
ページ数	:	p.149 - 166
発行年月	:	1998/00
発表会議名	:	「高輝度放射光がめざす戦略的応用研究」シンポジウム
開催年月	:	1998/03
開催都市	:	東京
開催国	:
キーワード	:	表面・界面; X線回折; 異常分散; コヒーレント光; 半導体

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登録番号 : B19971766
抄録集掲載番号 : 260603
論文投稿番号 : 15616

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