櫻井 真治; 朝倉 伸幸; 伊丹 潔; 久保 博孝; 東島 智; 嶋田 道也
Sakurai, Shinji; Asakura, Nobuyuki; Itami, Kiyoshi; Kubo, Hirotaka; Higashijima, Satoru; Shimada, Michiya
JT-60UのOH加熱及びNB加熱Lモード放電においてW型ダイバータのX点近傍の電子温度,密度,圧力及び放射損失の分布を調べた。主プラズマ密度の増加に従って放射損失が増加し、セパラトリクス近傍では電子密度が急増するとともに電子温度が低下した。電子温度が30eV以下になると炭素不純物からの放射損失が急増し、主プラズマ密度がグリンワルド密度限界の35%(OH加熱)
45%(Lモード)では電子温度は10eV以下まで低下し、電子圧力も低下した。Lモードでは電子温度が10eV未満でセパラトリクス近傍の電子圧力が1/10以下に低下し、X点直下でも非接触状態が形成された。さらに主プラズマ密度が増加すると非接触領域の電子圧力は徐々に低下したが、領域自体はセパトリクス近傍に限定された。これはX点MARFE状態では放射損失領域がX点近傍に集中していることと一致する。
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使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 43 |
号 |
: | 8 |
ページ数 |
: | P. 1829 |
発行年月 |
: | 1998/11 |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 1998/11 |
開催都市 |
: | New Orleans |
開催国 |
: | U. S. A. |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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Altmetrics |
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