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フーリエ変換分光法によるELM付きHモードプラズマの電子温度分布測定; 非熱的放射パルス除去

Measurement of electron temperature profile of ELMy H-mode plasma by Fourier transform spectroscopy; Removal of non-thermal emission pulses

諫山 明彦; 伊世井 宣明; 石田 真一; 佐藤 正泰; 児玉 武弘*; 岩間 尚文*

Isayama, Akihiko; Isei, Nobuaki; Ishida, Shinichi; Sato, Masayasu; not registered; not registered

JT-60Uの電子サイクロトロン放射(ECE)測定装置ではフーリエ変換分光装置(FTS)で絶対較正を行い、他のECE測定装置ではFTSをもとに相対較正している。しかし、ELM付きHモード中には非熱的放射によるパルス状のノイズが干渉信号に入るために、FTSによるバルクプラズマの電子温度測定が困難になり他の測定装置を相対較正できなくなる。ELM付きHモード中でもFTSによる電子温度測定ができるようにするため、今回非熱的放射パルスを除去する処理ソフトを開発した。ソフト作成にあたっては、JT-60Uのショット間に自動的に行えるようにするため、簡略なアルゴリズムを用いるようにした。今回作成した処理ソフトでは、従来から用いられているものに比べて処理時間が10%長くなる程度であり、得られる電子温度は相対較正した回折格子型分光装置の結果と約$$pm$$5%以内の誤差で一致した。

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