Yamamoto, Hiroyuki; Saito, Takeru
分子イオンを固体表面に照射すると1
A/cm
程度の電流密度においても単原子イオンを照射した場合に比べてクラスター生成効率が非常に高くなることが従来までのわれわれの成果により明らかとなっている。本研究においてはこの現象を応用し、C
F
等の分子イオンをSi(100),B等の表面に照射することによりSi
C
,BC等の二成分クラスターの生成に成功した。得られたクラスターの中でも、SiCについてはいずれの原子数からなるクラスターについてもC原子を2個以上含むものはほとんど観測されなかった。これはC原子が2個以上クラスター内に含まれる場合、その構造が大きく歪むためと考えられる。一方BCではこのような傾向は見られずほぼ任意の組成比でクラスターが得られた。以上の結果からクラスター生成において構造の安定性が大きく影響することを明らかにした。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 206 |
号 |
: | 1-4 |
ページ数 |
: | p.42 - 46 |
発行年月 |
: | 2003/05 |
発表会議名 |
: | 13th International Conference on Ion Beam Modification of Materials (IBMM 2002) |
開催年月 |
: | 2002/09 |
開催都市 |
: | Kobe |
開催国 |
: | Japan |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：66.94 分野：Instruments & Instrumentation |
Altmetrics |
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