検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

最近の照射後試験技術、2

Current status of post-irradiation examination techniques,2

坂倉 敦; 酒井 陽之; 山本 章

not registered; not registered; not registered

JMTRホットラボにおける最近の照射後試験技術を紹介するため、照射後試験の概要を述べ、次に新しい話題として、主に材料試験についてPCI-SCC試験、電気抵抗測定、計装シャルピー衝撃試験、破壊靱性試験およびX線マイクロアナライザーをトピックス的に解説した。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.