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Particle accumulation at the edge observed in n$$_{e}$$ and T$$_{e}$$ profiles of H-mode JFT-2M plasma

JFT-2M HモードプラズマのneとTeに関係して観測された周辺での粒子堆積

山内 俊彦; 小田島 和男; 上杉 喜彦; 相川 裕史; D.Dimock*; 川島 寿人; 河西 敏; 河上 知秀; 前田 彦祐; 松田 俊明; 松本 宏; 三浦 幸俊; 森 雅博; 中沢 一郎*; 小川 宏明; 小川 俊英; 大麻 和美; 大塚 英男; 仙石 盛夫; 荘司 昭朗

Yamauchi, Toshihiko; Odajima, Kazuo; Uesugi, Yoshihiko; not registered; D.Dimock*; Kawashima, Hisato; Kasai, Satoshi; Kawakami, Tomohide; Maeda, Hikosuke; Matsuda, Toshiaki; Matsumoto, Hiroshi; Miura, Yukitoshi; Mori, Masahiro; Nakazawa, Ichiro*; Ogawa, Hiroaki; Ogawa, Toshihide; not registered; Otsuka, Hideo; Sengoku, Seio; Shoji, Teruaki

JFT-2MプラズマのHモード遷移が電子温度約0.3KeVのペデェスタルと驚くべき電子密度の急勾配(セパトリックスの内側)の生成という形で生じている。ピークした分布から平坦になった電子密度分布がHモード及びオーミック加熱プラズマに対して内部破壊後に得られている。ホロー分布の密度が低磁場(低q)放電において観測された。これらの現象は分布の(平坦な領域)端における電子エネルギーの輸送の減少した結果(閉じ込めの改善)を示す。

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分野:Physics, Multidisciplinary

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