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Oxygen K-edge fine structure of Tl$$_{2}$$Ba$$_{2}$$Ca$$_{n-1}$$Cu$$_{n}$$O$$_{2n+4}$$ studied by electron energy loss spectroscopy

高温超電導体Tl$$_{2}$$Ba$$_{2}$$Ca$$_{n-l}$$Cu$$_{n}$$O$$_{2n+4}$$の酸素K-吸収端スペクトルの電子エネルギー損失分析

進藤 大輔*; 平賀 賢二*; 中島 理*; 菊地 昌枝*; 庄野 安彦*; 北條 喜一; 曽我 猛; 古野 茂実; 大津 仁

not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; Hojo, Kiichi; Soga, Takeshi; Furuno, Shigemi; not registered

高温超電導体Tl$$_{2}$$Ba$$_{2}$$Ca$$_{n-1}$$O$$_{2n+4}$$(n=1~3)において、Cu-O層の増加に伴うホール濃度の変化を電子エネルギー分光法で調べた。Cu-O層の数nを増加させるに従って、ホール濃度が下がることが明らかになり、これはCu-O結合上のホール濃度が減少してゆくものと結論した。Tl$$_{2}$$Ba$$_{2}$$Cu$$_{1}$$O$$_{6}$$(n=1の場合)において、2価のBaを3価のIaで置換してホール濃度を下げると、臨界温度Tcが55Kまで上昇することが判った。このことから、Tl$$_{2}$$Ba$$_{2}$$Cu$$_{1}$$O$$_{6}$$においては、ホールが過剰にドープされているものと結論した。

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パーセンタイル:50.8

分野:Physics, Applied

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