A Parasitic effect in neutral particle diagnostic using a helium probing beam

ヘリウムビームを用いた中性粒子計測における寄生効果について

Tobita, Kenji; Kusama, Yoshinori; Ito, Takao; Nemoto, Masahiro; Takeuchi, Hiroshi; Tsukahara, Yoshimitsu

環境磁気閉じ込め装置の能動的中性粒子計測において、プラズマ周辺に捕捉されたプローブビームのドリフト運動に寄与するある寄生的な現象が、測定の障害となりうることが判明した。本論文は、JT-60の測定を例にとり、この寄生効果の物理的描像を記述する。この寄生効果は、粒子検出系の視野がダイバータのような高リサイクリング領域を通る系で起こり、その発現はプラズマ表面の安全係数に依る。我々の解釈の妥当性及び寄生効果を避ける方法についても述べる。

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発表言語	:	English
掲載資料名	:	Japanese Journal of Applied Physics
巻	:	29
号	:	4
ページ数	:	p.760 - 764
発行年月	:	1990/04
発表会議名	:
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キーワード	:	JT-60; ビームプローブ; 中性粒子計測; 捕捉粒子; バナナ軌道

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1143/JJAP.29.760
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広報プレスリリース	:
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登録番号 : A19890394
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 9819

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