第4回IEAセラミックス照射損傷ワークシヨップ

IEA Workshop on In-Situ Measurements of Electrical Properties of Irradiated Ceramics

本報告は1990年6月27日~6月29日米国ロスアラモス国立研究所において開催された第4回IEAセラミックス照射損傷ワークショップをまとめたものである。本ワークショップでは、照射後試験に比べ大幅な電気抵抗の減少ならびに誘電損失の増大が予想される照射下その場電気特性研究の現状ならびに将来計画が日本、スペイン、イギリスならびに米国から報告された。また、重要となる照射下その場(in-situ)研究項目、照射下その場測定に有効な照射施設、国際協力などについて検討された。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	日本原子力学会誌
巻	:	32
号	:	11
ページ数	:	p.1099 - 1100
発行年月	:	1990/11
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
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キーワード	:	IEA; セラミックス; 照射; 電気抵抗; 誘電損失; 照射下その場測定; 照射施設

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登録番号 : A19900270
抄録集掲載番号 : 190084
論文投稿番号 : 10111

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