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透過電子顕微鏡その場観察用二重イオン照射装置

Dual ion beam irradiation system for in situ observation with electron microscope

塚本 哲生*; 北條 喜一; 古野 茂実; 大津 仁; 出井 数彦*

not registered; Hojo, Kiichi; Furuno, Shigemi; not registered; not registered

この論文は原研に設置されている二重イオン照射分析電子顕微鏡のイオン照射部について、設計の立場から精細に記されたものである。特に、電子顕微鏡のもっている性能を落とすことなく、大イオン電流を試料室内に導入するための工夫がのべられている。

no abstracts in English

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