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Fast ion losses due to toroidal field ripple in JT-60U

JT-60Uにおけるトロイダルリップルによる高速イオン損失

飛田 健次; 谷 啓二; 西谷 健夫; 永島 圭介; 草間 義紀

Tobita, Kenji; Tani, Keiji; Nishitani, Takeo; Nagashima, Keisuke; Kusama, Yoshinori

JT-60Uにおいて、短パルス中性粒子ビーム入射後の中性子発生率の時間変化から、トロイダル磁場のリップルによる高速イオン損失を調べた。順方向通過粒子に対する拡散係数は約0m$$^{2}$$/sとなり、これは高速イオンの損失がないことを示す。一方、捕捉粒子の入射に対しては、リップル損失の特徴を示すパラメータ依存性が見られた。実験と軌道追跡モンテカルロ(OFMC)コードによる計算とを比較した結果、バナナドリフト損失の割合に依らず、OFMCは実験結果を良く説明することが明らかになった。以前JT-60Uで行なわれたリップル捕捉損失の結果を考慮すると、この結果は、OFMCコードがリップル捕捉損失だけでなくバナナドリフト損失も正しく評価していることを裏付ける。

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パーセンタイル:81.13

分野:Physics, Fluids & Plasmas

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