放射光をプローブとして用いる分析法の現状と将来について解説した。特にSPring-8に代表される今後の放射光の高輝度化、高エネルギー化を考慮し、X線領域の放射光を用いる表面分析法(X線光電子分光法、オージェ電子分光法、蛍光X線分析法、X線吸収端微細構造法)を中心に今後の展望を述べた。また、
線領域の放射光の分析化学的利用の可能性についても触れた。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 0 |
号 |
: | 3 |
ページ数 |
: | p.187 - 194 |
発行年月 |
: | 1995/00 |
キーワード |
: |
論文URL |
: |
|
|---|---|---|
論文解説記事 |
: |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
