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Utilization of background signal for inference of $$Z_{eff}$$ spatial profile in incoherent Thomson scattering diagnostic

非協同トムソン散乱計測における背景光を用いた実効荷電分布の測定

内藤 磨; 波多江 仰紀

Naito, Osamu; Hatae, Takaki

トムソン散乱計測において、電子温度,密度と同時に有効荷電分布を推測する方法について報告する。本計測法では、通常は背景光の影響を差し引くためのみに使われている背景データを再構成計算に用いる。その結果、背景光が主に制動放射によるものであれば、十分正確な有効荷電分布を再構成できることを示した。またこの方法により電子温度,密度計測の精度も向上することを明らかにした。

A simulation study on the feasibility of inferring spatial $$Z_{eff}$$ profile along with electron temperature and density in Thomson scattering diagnostic is presented. The background signal, which is usually discarded after subtracted from the Thomson scattered signal, is used in the reconstruction procedure. If the background signal consists predominantly of bremsstrahlung radiation, a fairly accurate $$Z_{eff}$$ profile can be reconstructed. Additional benefit of including background signal in the reconstruction is the reduction of errors in the inferred electron temperature and density.

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