市原 晃 
; 白井 稔三; J.Eichler*
Ichihara, Akira; Shirai, Toshizo; J.Eichler*
裸の高Z入射イオンと低Z標的原子との高エネルギー原子衝突では、電子が入射イオンに輻射を伴って捕獲される(REC)。この輻射の角度分布は、自由電子と入射イオンの輻射再結合(RR)によるものとして非常に良く表すことができる。この過程は光電子効果の逆過程である。本論文では、これまでに計算された場合よりもはるかに高い0.2~10GeV/uの入射エネルギーでのAu
とU
に対する厳密な微分RR断面積を示した。また、入射エネルギーに相当するX-線エネルギーでの光電効果に対する微分断面積も示した。その結果、高エネルギーでの断面積の著しい前方ピークのために低Z標的からのRECの測定が光電効果を研究する最も実用的方法であることが分かった。特別な場合としてAu標的に入射した10.8GeV/uのAuについては、標的原子の電子数をかけたRR断面積は、インパルス近似でのREC断面積に近くなることも分かった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 54 |
号 |
: | 6 |
ページ数 |
: | p.4954 - 4959 |
発行年月 |
: | 1996/12 |
キーワード |
: | Radiative Electron Capture; Radiative Recombination; Photoelectric Effect; Au; U |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：81.33 分野：Optics |
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