Accurate estimation of subcriticality using indirect bias estimation method, I; Theory

計算誤差間接推定法による未臨界度の推定, I; 理論

山本 俊弘; 桜井 淳; 荒川 拓也*; 内藤 俶孝

Yamamoto, Toshihiro; Sakurai, Kiyoshi; Arakawa, Takuya*; Naito, Yoshitaka

体系の未臨界度を推定するために、「計算誤差間接推定法」という新しい手法を提案する。直接測定の出来ない実効増倍率の「測定値」とその計算値とを比べるのではなく、未臨界実験で測定可能な量の測定値と計算値とを直接比べることで実効増倍率の計算値のバイアスを見積もる。未臨界計算の精度は、これらの測定可能な量の誤差から間接的に導かれる。ここでは、中性子源増倍法、パルス中性子法、指数実験法に基づく三つの推定法を示す。この三つの手法について、それぞれ中性子計数率分布、即発中性子減衰定数、空間減衰定数が計算と推定で比較され、実効増倍率の計算値のバイアスが導かれる。この「間接推定法」により得られたバイアスを用いることで、実効増倍率の「測定値」よりもより高精度に、また、より高い信頼度で体系の未臨界度の推定が可能となる。

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