清水 勝宏; 伊丹 潔; 久保 博孝; 朝倉 伸幸; 嶋田 道也
Shimizu, Katsuhiro; Itami, Kiyoshi; Kubo, Hirotaka; Asakura, Nobuyuki; Shimada, Michiya
実験データに基づいて、ダイバータ輸送特性を解析するコードを開発した。静電プローブで測定されたダイバータ板での密度、温度を境界条件に、一次元流体方程式を数値的に解く。中性粒子の輸送は、モンテカルロ法で、二次元配位のもとに模擬する。このコードを用いてJT-60Uのダイバータ特性の解析を行なった。ジュール加熱時の低密度プラズマで、フラックスの増倍率が2程度と小さいにもかかわらず、10eV程度と温度の低いダイバータプラズマが実現されているのは、主プラズマでの放射損失が大きく、粒子束が2~3
10
s
程度と高いためである。主プラズマに注入する中性粒子の量より、主プラズマの粒子閉じ込め時間は、70~120msecである。計算で得られたスクレイプ層での電子温度分布、熱流束分布より、熱拡散係数を評価すると、3m
/s程度である事が明らかになった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 196-198 |
号 |
: | |
ページ数 |
: | p.476 - 480 |
発行年月 |
: | 1992/00 |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 1992/03 |
開催都市 |
: | America |
開催国 |
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キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：94.25 分野：Materials Science, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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