Development of a diagnostic system for high power microwave(FEL) electric fields in the microwave tokamak experiment

MTXトカマクにおける高電力マイクロ波(FEL)の電界測定システムの開発

尾田 年光*; 小田島 和男; 多幾山 憲*; J.H.Foote*; K.Mizuno*; 小川 俊英; 佐藤 国憲*; 大麻 和美; 星野 克道; 前田 彦祐; D.G.Nilson*

not registered; Odajima, Kazuo; Takiyama, Ken*; J.H.Foote*; K.Mizuno*; Ogawa, Toshihide; not registered; not registered; Hoshino, Katsumichi; Maeda, Hikosuke; D.G.Nilson*

米国ローレンスリバモア国立研究所で進められている自由電子レーザー(FEL)マイクロ波を用いたMTX計画において、FELマイクロ波の電界を測定するレーザ補助粒子プローブ分光装置(LAPPS)を開発した。LAPPSはヘリウム中性粒子ビーム源、色素レーザ装置及び分光装置からなる。シュタルク効果を用い、プラズマ中の電界測定のため準安定ヘリウム原子での禁制線遷移による誘起螢光を測定する。測定する光量を充分得るためには、プラズマ中心部で充分な量のヘリウム原子が必要で、LAPPSでは50kV、0.2~0.4Aである。これはMTXトカマクのポートサイズから決っている値ギリギリである。原研における試験でビーム中の3重場準安定原子の密度を測定した。この結果よりMTXの本番測定においても充分測定可能であるとの感触を得た。

no abstracts in English