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X-ray diffraction studies of self-ion irradiated synthetic single crystal diamond

自己イオン照射した人工ダイヤモンド単結晶のX線回折による研究

前田 裕司; 春名 勝次*; B.Lu*; 小野 文久*

Maeta, Hiroshi; Haruna, K.*; B.Lu*; Ono, Fumihisa*

人工ダイヤモンド単結晶をタンデム加速器により、100MeVのCイオンおよび3MeVの電子線で照射を行ない、X線測定を行なった。格子定数は照射量に比例して増加した。X線積分反射強度は著しく増加した。完全に近い結晶では入射X線は結晶内反射を繰り返し反射強度が減少する(消衰効果)。照射により反射強度が増加したことは、形成された欠陥により消衰効果が減少したことで説明できる。

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