川面 澄*; 中江 隆則*; 嶋谷 成俊*; 前田 耕治*; 荒井 重義*; 三田村 徹*; 寺沢 倫孝*; 岩崎 源*; 内田 等*; 小寺沢 啓司*; 堀野 裕治*; 杢野 由明*; 藤井 兼栄*; 佐藤 守*; 左高 正雄; 今井 誠; 前田 裕司
Kawatsura, Kiyoshi*; not registered; not registered; not registered; Arai, Shigeyoshi*; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; Sataka, Masao; Imai, Makoto; Maeta, Hiroshi
照射誘起偏析を解析するためタンデム加速器から得られた140MeVのNiイオンを単結晶のステンレス鋼(オーステナイト系SUS304)に照射した。その試料を1.8MeVの
HeイオンによりPIXE及びRBS法により解析した。その結果、照射効果と熱的アニーリング効果との違いを明らかにした。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 75 |
号 |
: | |
ページ数 |
: | p.367 - 370 |
発行年月 |
: | 1993/00 |
発表会議名 |
: | 6th Int. Conf. on Particle Induced X-ray Emmision and Its Analytical Applications |
開催年月 |
: | 1992/07 |
開催都市 |
: | 東京 |
開催国 |
: | |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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Altmetrics |
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