Effect of electron excitation on radiation damage in fcc metals

fcc金属の照射損傷における電子励起効果

タンデム加速器、2MVVdG加速器を用いて行った低温照射実験の結果明らかになった「金属の照射損傷における電子励起効果」について、招待講演を行う。主な内容は以下の通りである。(1)照射アニーリングにおける電子励起効果。(2)電子励起による格子欠陥の生成

no abstracts in English

使用言語	:	English
掲載資料名	:	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
巻	:	90
号	:
ページ数	:	p.322 - 329
発行年月	:	1994/00
発表会議名	:	15th IUPAP Int. Conf. on Atomic Collisions in Solids
開催年月	:	1993/07
開催都市	:	Canada
開催国	:
キーワード	:	Radiation Damage; High Energy Ion; Electron Excitation; Radiation Annealing; Defect Production

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1016/0168-583X(94)95565-4
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:	パーセンタイル：87.25 分野：Instruments & Instrumentation
Altmetrics	:

登録番号 : B19930286
抄録集掲載番号 : 220734
論文投稿番号 : 12656

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.