Impurity transport modelling and simulation analysis of impurity behavior in JT-60U

不純物輸送モデルとJT-60Uにおける不純物挙動のシミュレーション解析

清水 勝宏; 久保 博孝; 滝塚 知典; 安積 正史; 嶋田 道也; 辻 俊二; 細金 延幸; 杉江 達夫; 逆井 章; 朝倉 伸幸; 東島 智

Shimizu, Katsuhiro; Kubo, Hirotaka; Takizuka, Tomonori; Azumi, Masafumi; Shimada, Michiya; Tsuji, Shunji; Hosogane, Nobuyuki; Sugie, Tatsuo; Sakasai, Akira; Asakura, Nobuyuki; Higashijima, Satoru

ダイバータプラズマ中での不純物輸送の機構解明を目的として、モンテカルロ技法を用いた2次元不純物輸送コードを開発した。不純物の各電離状態の密度分布を求め、放射分布や可視線スペクトルの強度を計算し、測定データと比較する。ダイバータプレートや壁からの不純物の発生メカニズムや不純物のシールド効果、輸送について調べた。シミュレーションは、JT-60Uのダイバータプラズマ中の炭素不純物に対して行った。主プラズマ中での不純物の混入量は、nc/ne1.5%程度で、実験データの~2%と比較的良く一致している。イオンのthermal forceによって、発生不純物のうち20%が主プラズマへ混入する。このthermal forceがないとすると、電場や摩擦力によって、それは、1.5%程度である。不純物のシールド効果は、イオンの温度勾配に強く依存する事が明らかになった。

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