Agematsu, Takashi; Okumura, Susumu; Arakawa, Kazuo
原研サイクロトロンのイオンビーム大面積照射は、直交する2台の偏向電磁石と三角波を使ったラスタースキャニング法を採用した。2次元フルエンスの相対分布の測定および均一度評価は、CTAフィルム線量計を応用した。均一度を改善するために、原因を究明し、計算機シミュレータの開発により定量的な解析を行った。その結果、ビームスキャナ電源の改造を行うことにより、良い均一度を実現した。電源の改造前後において、H
45MeV同一条件で照射を行ったところ、照射野100
100mmにおいて、
15%の均一度が、4%の均一度となったことを確認した。
no abstracts in English
発表言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
: | 0 |
号 |
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ページ数 |
: | p.467 - 471 |
発行年月 |
: | 1995/03 |
発表会議名 |
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開催年月 |
: | 1994/11 |
開催都市 |
: | Tokyo |
開催国 |
: | Japan |
キーワード |
: | イオンビーム; 均一照射; サイクロトロン; フルエンス測定; CTA線量計; フルエンス分布; 軽イオン; 重イオン; 磁場走査 |
論文URL |
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論文解説 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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