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Ripple induced fast ion loss and related effects in JT-60U

JT-60Uにおける高速イオンのリップル損失とそれに付随する効果

飛田 健次; 谷 啓二; 草間 義紀; 西谷 健夫; 池田 佳隆; 閨谷 譲; S.V.Konovalov*; 菊池 満; 小出 芳彦; 濱松 清隆; 竹内 浩; 藤井 常幸

Tobita, Kenji; Tani, Keiji; Kusama, Yoshinori; Nishitani, Takeo; Ikeda, Yoshitaka; Neyatani, Yuzuru; S.V.Konovalov*; Kikuchi, Mitsuru; Koide, Yoshihiko; Hamamatsu, Kiyotaka; Takeuchi, Hiroshi; Fujii, Tsuneyuki

高速イオンのリップル輸送のモデルを検証するための実験をJT-60Uで行ってきた。リップルによって引き起こされる高速イオンの損失を中性子発生量の時間変化及び、第一壁への熱負荷から評価した。全リップル損失量、リップル捕捉・バナナドリフトによる部分損失量について実験と計測予測を比較した結果、いずれの損失量に対しても両者は一致した。この結果はリップル損失を支配する輸送が既存理論の枠内で良く説明されることを意味する。高速イオンの損失によってもたらされるプラズマ回転等の副次的効果についても述べる。

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パーセンタイル:88.34

分野:Physics, Fluids & Plasmas

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