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Measurement of atomic hydrogen fluxes in MeV-energy range in ICRF-heated JT-60U plasmas

JT-60UのICRF加熱プラズマにおけるMeV領域の水素原子束の測定

Afanassiev, V. I.*; 草間 義紀; 根本 正博; 西谷 健夫; S.Petrov*; Kozlovskij, S. S.*; 佐藤 稔; 森岡 篤彦; 塚原 美光; 近藤 貴; 木村 晴行; 濱松 清隆; 森山 伸一; 三枝 幹雄; 藤井 常幸

Afanassiev, V. I.*; Kusama, Yoshinori; Nemoto, Masahiro; Nishitani, Takeo; S.Petrov*; Kozlovskij, S. S.*; Sato, Minoru; Morioka, Atsuhiko; Tsukahara, Yoshimitsu; Kondoh, Takashi; Kimura, Haruyuki; Hamamatsu, Kiyotaka; Moriyama, Shinichi; Saigusa, Mikio; Fujii, Tsuneyuki

ヨッフェ研究所との協力で準備したアルファ粒子分析器により、ICRF加熱時に発生するMeV領域の高速水素粒子を測定した。(1)検出器の特性:中性子/$$gamma$$線に対する検出感度及び水素粒子に対するエネルギー分解能は較正結果とほぼ一致した。(2)イオンテイル温度:2倍~5倍までの高調波加熱で形成されるテイル温度は、4倍までは次数とともに上昇し、5倍で減少した。この傾向は、フォッカー・プランクコードによる計算結果と一致した。(3)ICRFパワー依存性:5MW程度で、測定した粒子束(0.3~1MeV)、テイルの蓄積エネルギーは飽和した。よりエネルギーの高いイオンによるパワー収束と加速されたイオンの損失が示唆される。テイル温度の電子密度依存性、テイル温度の減衰についても述べる。

no abstracts in English

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