not registered; not registered; Ara, Katsuyuki
傷の方向によらず探傷可能なプローブの開発を目的として、励磁磁界の乱れを誘導コイルで検出する乱れ磁束検出型電流探傷法に基づき、6連の平行四辺形平面コイルで励磁コイルを構成した探傷プローブを用いて、平板の模擬非貫通欠陥に関して探傷試験を行った。その結果、内面欠陥については深さ0.15mmの直径0.5mmの穴まで検出することができた。また、外面欠陥については、縦欠陥、横欠陥のいずれでも穴の場合と同じ深さの欠陥を検出できた。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
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巻 |
: | 20 |
号 |
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ページ数 |
: | p.633 - 636 |
発行年月 |
: | 1996/00 |
発表会議名 |
: | |
開催年月 |
: | 1995/09 |
開催都市 |
: | 東京 |
開催国 |
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キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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